Sedimentologische, petrografische und Mikrofaziesanalyse verschiedenster abgedeckter und unabgedeckter Präparate im Durch- und Auflicht
Mikroskop Olympus BX-53 (Material) mit Einrichtung für Durchlicht, Auflicht, Polarisation, Fluoreszenz, Dunkelfeld, DIC, Phasenkontrast, Digitalkamera Olympus DP-74, Märzhäuser Scanning-Tisch und Bildanalyse-Software Olympus Stream
(Foto: J. Mingram)
Makro-Zoom Mikroskop Nikon AZ-100M mit Scanning-Tisch, Durchlichtuntersatz mit Polarisation, Fluoreszenz, Digitalkamera Nikon DS-Fi1c und Bildanalysesoftware NIS Elements
(Foto: J. Mingram)
Makro-Zoom Mikroskop Zeiss AxioZoom.V16 mit Zeiss Axiocam 208 color
(Foto: J. Mingram)
Dropstones in warvierten Früh-Holozänen Sedimenten des Sihailongwan-Sees (NE-China),; Dünnschliff unter Durchlichtbeleuchtung mit teilweise gekreuzten Nicols.
(Foto: J. Mingram)
Mikroskop Olympus BX-53 (Material) mit Einrichtung für Durchlicht, Auflicht, Polarisation, Fluoreszenz, Dunkelfeld, DIC, Phasenkontrast, Digitalkamera Olympus DP-74, Märzhäuser Scanning-Tisch und Bildanalyse-Software Olympus Stream
Mikroskop Olympus BX-53 (Bio/Med) mit Einrichtung für Durchlicht, Fluoreszenz, orientierende Polarisation, Digitalkamera Olympus DP-72, Märzhäuser Scanning-Tisch und Bildanalyse-Software Olympus cellSens
Makro-Zoom Mikroskop Zeiss AxioZoom.V16 mit Zeiss Axiocam 208 color
Makro-Zoom Mikroskop Nikon AZ-100M mit Scanning-Tisch, Durchlichtuntersatz mit Polarisation, Fluoreszenz, Digitalkamera Nikon DS-Fi1c und Bildanalysesoftware NIS Elements (im Kernscan-Labor)
Makroskop Leica Wild "M 420" mit Durchlichtuntersatz, Pol- und Dunkelfeldeinrichtung und Leica Digitalkamera DFC 480
Universal-Mikroskop ZEISS “Axiophot” mit Digitalkamera “AxioCam 412 color”
2 petrografische Mikroskope: ZEISS "Jenapol" mit Standardausrüstung für Durch- und Auflicht sowie Polarisation, sowie petrografisches Mikroskop ZEISS "Axiolab" pol mit Standardausrüstung
Stereomikroskop Leica Wild "M3Z" mit Durchlichtuntersatz (pol) zur Dünnschliff-Korrelation
Tischscanner "Epson Perfection V750 Pro" mit Durchlicht-Option und Pol-Einrichtung für Dünnschliff-Scans
